近红外光谱分析技术快速测定天舒片的包衣薄膜厚度
Rapid Determination of Coating Film Thickness of Tianshu Tablets by Near Infrared Spectroscopy
摘要目的:探讨近红外光谱分析技术应用于检测天舒片包衣薄膜厚度的可行性.方法:采集9批天舒片包衣过程样品的近红外漫反射光谱,运用Kennard-Stone算法将样本集划分为校正集和验证集.优选预处理方法,并采用组合间隔偏最小二乘法(siPLS)和移动窗口偏最小二乘法(mwPLS)优选光谱区间,建立测定包衣厚度的偏最小二乘法(PLS)定量模型.结果:在标准正态变量变换+一阶导数+ Norris Derivative平滑对光谱进行预处理并结合siPLS的优选区间建立的模型中,校正集预测值与实测值的相关系数0.966,验证集预测值与实测值的相关系数0.991,表明预测值与实测值的相关性较好.校正均方根误差(RMSEC)0.198%,预测均方根误差(RMSEP)0.062%,表明模型的预测性能良好.结论:近红外光谱分析技术用于天舒片包衣薄膜厚度的测定具有很高的准确性,能够为中药片剂生产过程中包衣厚度的在线检测提供技术支持.
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