摘要目的:探讨32P韧致辐射SPECT断层显像技术,定位、定量检测32P.材料和方法:GE公司的MillenniumVG可变角度双探头SPECT仪,静态采集,获取32P韧致辐射能峰位置.应用脏器断层显像技术,检测系列比活度的32P韧致辐射,建立横断面平均计数与32P比活度的关系方程.同样方法检测接受32P局部注射内照射治疗的肿瘤患者23例.结果:32P韧致辐射能峰为78.4keV左右;横断面平均计数与32P比活度的关系方程:Y= -0.457+0.311x.Y为32P放射性比活度(MBq/ml),x为平均放射性计数(cts/pix).23例患者均得到清晰的断层图像,并可以推算初始32P比活度.结论:32P韧致辐射SPECT断层显像技术是可行的.
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