换一批影响心脏植入式电子设备导线脱位的危险因素分析
Analysis of risk factors for lead dislocation in cardiac implantable electronic devices
摘要目的 分析影响心脏植入式电子设备(CIED)导线脱位的临床危险因素.方法 选取2013年1月至2024年6月首都医科大学附属北京安贞医院收治的78例因心律失常行CIED植入术后出现导线脱位的患者为导线脱位组,并随机选取同期首都医科大学附属北京安贞医院收治的137例因心律失常行CIED植入术后未出现导线脱位的患者为未脱位组.比较2组患者的基线特征、实验室检查结果及超声检查结果.采用Logistic回归方法分析患者导线脱位的临床危险因素.结果 导线脱位组患者年龄小于未脱位组[(67±12)岁比(73±10)岁],房室传导阻滞和心脏介入手术操作史比例高于未脱位组[46.2％(36/78)比 10.9％(15/137)、23.1％(18/78)比7.3％(10/137)](均 P＜0.05).2 组实验室检查结果比较,除丙氨酸转氨酶外,差异均无统计学意义(均P＞0.05).导线脱位组左心室舒张末期内径、左心室收缩末期内径均大于未脱位组,左心室射血分数低于未脱位组(均P＜0.05).多因素二元Logistic回归分析结果显示,较高的左心室舒张末期内径(比值比=1.43)、较低的左心室射血分数(比值比=1.07)和房室传导阻滞病史(比值比=16.74)与导线脱位事件风险增加独立相关(均P＜0.01).结论 较高的左心室舒张末期内径、较低的左心室射血分数、房室传导阻滞病史与CIED导线脱位事件风险增加独立相关.
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关键词
心脏植入式电子设备导线脱位左心室舒张末期内径左心室射血分数Cardiac implantable electronic devicesLead dislocationLeft ventricular end diastolic dimensionLeft ventricular ejection fraction
分类号
R654（外科学各论）
栏目名称
DOI
10.3760/j.issn.1673-4777.2025.02.002
发布时间
2025-02-28（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
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