心脏植入式电子装置相关三尖瓣反流的研究新进展
Research of tricuspid regurgitation associated with cardiac implantable electronic devices
摘要心脏植入式电子装置(CIED)相关三尖瓣反流是继发性三尖瓣反流的重要组成部分,其病因较为复杂,受到起搏导线介导的三尖瓣反流和CIED存在带来的不可控因素影响.CIED相关三尖瓣反流的发病机制包括起搏导线对三尖瓣复合体的机械性损伤或干扰、起搏模式对三尖瓣反流的影响以及永久性心房颤动、心尖起搏、右心室高比例起搏等临床危险因素.CIED相关三尖瓣反流的自然病程发展和预后与其他病因导致的三尖瓣反流类似.超声心动图、心脏计算机断层扫描和心脏磁共振成像等影像学检查可对CIED相关三尖瓣反流进行精确诊断.CIED相关三尖瓣反流的应对策略包括优化导线植入的方法、选择最适配的起搏方式等预防措施和药物治疗、手术干预等处理方法,多学科共同决策尤为重要.本文综述了CIED相关三尖瓣反流的研究现状,旨在为临床实践提供参考.
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