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【外文期刊】 Sergei,Magonov ; John,Alexander ; 《Beilstein journal of nanotechnology》 2011年2卷 15-27页
【关键词】 Kelvin force microscopy; atomic force microscopy; fluoroalkanes;
【外文期刊】 Yingjie,Zhang ; Olivier,Pluchery ; 等 《Nano letters》 2015年15卷1期 51-5页 SCIMEDLINECA
【关键词】 Charge state; Kelvin probe force microscopy; chemical sensing;
【外文期刊】 Albert,Minj ; Vivek,Mootheri ; 等 《ACS nano》 2024年18卷15期 10653-10666页 SCIMEDLINECA
【关键词】 Kelvin probe force microscopy; in situ; quantum capacitance;
【外文期刊】 M,Moczała ; N,Sosa ; 等 《Ultramicroscopy》 2014年141卷 1-8页 SCIMEDLINECABP
【关键词】 Epitaxial structures; High-efficiency solar cells; III–V Semiconductors;
【外文期刊】 Zixuan,Yang ; Bo,Kan ; 等 《Materials (Basel, Switzerland)》 2017年10卷11期 SCIMEDLINE
【关键词】 SEM; X70 steel; hydrostatic pressure;
【外文期刊】 Ehsan,Rahimi ; Amin,Imani ; 等 《ACS applied materials & interfaces》 2024年16卷39期 53299-53310页 SCIMEDLINECA
【关键词】 Kelvin probe force microscopy; apoferritin protein; biodegradation;
【外文期刊】 Adara,Babuji ; Francesco,Silvestri ; 等 《ACS applied materials & interfaces》 2020年12卷51期 57578-57586页 SCIMEDLINECA
【关键词】 Kelvin probe force microscopy; interfaces; molecular doping;
【外文期刊】 Yuuki,Adachi ; Huan Fei,Wen ; 等 《ACS nano》 2019年13卷6期 6917-6924页 SCIMEDLINECA
【关键词】 Kelvin probe force spectroscopy; bond manipulation; charge manipulation;
【外文期刊】 Yu,Meng ; Xiaowei,Du ; 等 《Molecules (Basel, Switzerland)》 2024年29卷18期 SCIMEDLINECA
【关键词】 GaN; Kelvin probe force microscopy; neural stem cells;
【外文期刊】 Sooik,Im ; Ethan,Frey ; 等 《Advanced science (Weinheim, Baden-Wurttemberg, Germany)》 2023年10卷31期 e2304459页
【关键词】 air-stable radicals; charge retention; kelvin probe force microscopy (KPFM);
【外文期刊】 Lingqiao,Kong ; Qiushi,Ruan ; 等 《Advanced materials (Deerfield Beach, Fla.)》 2023年35卷46期 e2304669页 SCIMEDLINECA
【关键词】 Kelvin probe force microscopy (KPFM); ZnIn2S4; anisotropic semiconductors;
【外文期刊】 Viktor A,Ponomarev ; Aleksander N,Sheveyko ; 等 《ACS applied materials & interfaces》 2019年11卷32期 28699-28719页 SCIMEDLINECA
【关键词】 Kelvin probe force microscopy; antibacterial films; bactericide ion release;
【外文期刊】 Liam,Collins ; Eric S,Muckley ; 等 《ACS applied materials & interfaces》 2020年12卷13期 15380-15388页 SCIMEDLINECA
【关键词】 hybrid organic?inorganic perovskites (HOIP); impedance spectroscopy (IS); ion transport;
【外文期刊】 Young Jin,Choi ; Seongchan,Kim ; 等 《ACS nano》 2019年13卷7期 7877-7885页 SCIMEDLINECA
【关键词】 Kelvin probe force microscopy; Schottky barrier transistor; graphene;
【外文期刊】 Joel,Ndikumana ; Kunsik,An ; 《Microscopy research and technique》 2024年87卷3期 470-475页 SCIMEDLINE
【关键词】 conductive atomic force microscopy (C-AFM); gate bias; pentacene;
【外文期刊】 Devon S,Jakob ; Haomin,Wang ; 等 《ACS nano》 2020年14卷4期 4839-4848页 SCIMEDLINECA
【关键词】 Kelvin probe force microscopy; atomic force microscopy; contact potential;
【外文期刊】 Martin,Munz ; Cristina E,Giusca ; 等 《ACS nano》 2015年9卷8期 8401-11页 SCIMEDLINECA
【关键词】 Kelvin probe force microscopy; adhesion; chemical force microscopy;
【外文期刊】 Victor W,Bergmann ; Yunlong,Guo ; 等 《ACS applied materials & interfaces》 2016年8卷30期 19402-9页 SCIMEDLINECA
【关键词】 Kelvin probe force microscopy; charge trapping; ion migration;
【外文期刊】 Jing,He ; Shiyuan,Chen ; 等 《ACS nano》 2024年18卷35期 24283-24294页 SCIMEDLINECA
【关键词】 Kelvin probe force microscopy; Mott?Schottky effect; charge transfer;
【外文期刊】 Sikandar,Aftab ; Imtisal,Akhtar ; 等 《ACS applied materials & interfaces》 2020年12卷37期 42007-42015页 SCIMEDLINECA
【关键词】 Kelvin probe force microscopy; WSe2; h-BN;
【外文期刊】 Young Min,Park ; Joon Sik,Park ; 等 《Data in brief》 2020年29卷 105177页
【关键词】 Frequency-modulation mode Kelvin probe force microscopy; Frequency-modulation mode atomic force microscopy; InAs(001) surface;
【外文期刊】 Seung-Hoon,Lee ; Seung Woo,Lee ; 等 《Nano letters》 2018年18卷1期 109-116页 SCIMEDLINECA
【关键词】 Charge separation; Kelvin probe force microscopy; electron acceptor;
【外文期刊】 Nobuyuki,Ishida ; 《Beilstein journal of nanotechnology》 2022年13卷 1558-1563页
【关键词】 Kelvin probe force microscopy (KPFM); electrochemistry; reference electrode;
【外文期刊】 Antoine,Hinaut ; Adeline,Pujol ; 等 《Beilstein journal of nanotechnology》 2012年3卷 221-9页
【关键词】 Kelvin force probe microscopy; atomic force microscopy; insulating surfaces;
【外文期刊】 Ruixue,Li ; Jeff J P M,Schulpen ; 等 《ACS applied materials & interfaces》 2025年17卷7期 10931-10941页 SCIMEDLINECA
【关键词】 Kelvin probe force microscopy; MOSFET; WSe2;
【外文期刊】 Bin,Lu ; Matthias,Stolte ; 等 《Advanced science (Weinheim, Baden-Wurttemberg, Germany)》 2024年11卷14期 e2308036页
【关键词】 Kelvin probe force microscopy; NH3 sensor; organic single crystal;
【外文期刊】 Christian,Ritz ; Tino,Wagner ; 等 《Beilstein journal of nanotechnology》 2020年11卷 911-921页
【关键词】 Kelvin probe force microscopy (KFM); atomic force microscopy (AFM); electrostatic height error;
【外文期刊】 Chuanxiao,Xiao ; Changlei,Wang ; 等 《ACS applied materials & interfaces》 2017年9卷44期 38373-38380页 SCIMEDLINECA
【关键词】 Kelvin probe force microscopy; electron-selective layer; interface;
【外文期刊】 Mahshid,Ahmadi ; Liam,Collins ; 等 《ACS applied materials & interfaces》 2019年11卷44期 41551-41560页 SCIMEDLINECA
【关键词】 Kelvin probe force microscopy; charge transport; electric field;
【外文期刊】 Leo,Polak ; Rinke J,Wijngaarden ; 《Ultramicroscopy》 2016年171卷 158-165页 SCIMEDLINECABP
【关键词】 Distance dependence; Kelvin Probe Force Microscopy; Probe change;
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