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【外文期刊】 Kana L,Hasezaki ; Hikaru,Saito ; 等 《Ultramicroscopy》 2017年182卷 249-257页 SCIMEDLINECABP
【关键词】 Dislocation; Electron channeling contrast imaging; Electron tomography;
【外文期刊】 Shigeto,Yamasaki ; Misaki,Deguchi ; 等 《Microscopy (Oxford, England)》 2021年70卷3期 265-277页
【关键词】 FIB-SEM serial sectioning; dislocation; electron backscatter diffraction;
【外文期刊】 Han,Han ; Thomas,Hantschel ; 等 《Ultramicroscopy》 2020年210卷 112922页 SCIMEDLINECABP
【关键词】 Angular BSE selection; Beam energy; Defect contrast maximization;
【外文期刊】 Bastien,Bonef ; Rushabh D,Shah ; 等 《Nano letters》 2019年19卷3期 1428-1436页 SCIMEDLINECA
【关键词】 Single dislocation; atom probe tomography; electron channeling contrast imaging;
【外文期刊】 Lars A,Lingnau ; Johannes,Heermant ; 等 《Materials (Basel, Switzerland)》 2024年17卷12期 SCIMEDLINE
【关键词】 atomic force microscopy; axial–torsional fatigue; damage mechanism;
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