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【外文期刊】 Ivan,Gutierrez-Urrutia ; 《Ultramicroscopy》 2019年206卷 112826页 SCIMEDLINECABP
【关键词】 Dislocation imaging; Electron channeling contrast imaging; SEM;
【外文期刊】 Ivan,Gutierrez-Urrutia ; 《Microscopy and microanalysis : the official journal of Microscopy Society of America, Microbeam Analysis Society, Microscopical Society of Canada》 2021年27卷2期 318-325页 SCIMEDLINECABP
【关键词】 SEM; electron channeling contrast imaging; fcc materials;
【外文期刊】 Jin-Su,Oh ; Hyun-Woo,Cha ; 等 《Microscopy research and technique》 2019年82卷6期 849-855页 SCIMEDLINE
【关键词】 electron backscatter diffraction (EBSD); electron channeling contrast imaging (ECCI); low angle boundary migration;
【外文期刊】 Han,Han ; Thomas,Hantschel ; 等 《Ultramicroscopy》 2020年210卷 112928页 SCIMEDLINECABP
【关键词】 3D semiconductor structure; Detector configuration; Edge effects;
【外文期刊】 Motomichi,Koyama ; Misaki,Seo ; 等 《Science and technology of advanced materials》 2021年22卷1期 135-140页
【关键词】 Metallic materials; SEM; STEM;
【外文期刊】 Han,Han ; Libor,Strakos ; 等 《Micron (Oxford, England : 1993)》 2021年150卷 103123页 SCIMEDLINEBP
【关键词】 Crystalline defect analysis; ECCI information depth; Electron channeling contrast imaging;
【外文期刊】 Nicolas,Brodusch ; Hendrix,Demers ; 等 《Ultramicroscopy》 2015年148卷 123-131页 SCIMEDLINECABP
【关键词】 Dark-field (DF); Deformation; Electron backscatter diffraction (EBSD);
【外文期刊】 Ivan,Gutierrez-Urrutia ; 《Microscopy (Oxford, England)》 2017年66卷2期 63-67页
【外文期刊】 Y N,Picard ; M,Liu ; 等 《Ultramicroscopy》 2014年146卷 71-8页 SCIMEDLINECABP
【关键词】 Defect imaging; Electron channeling contrast imaging; Image simulation;
【外文期刊】 Julia I,Deitz ; Timothy J,Ruggles ; 等 《Microscopy and microanalysis : the official journal of Microscopy Society of America, Microbeam Analysis Society, Microscopical Society of Canada》 2023年29卷3期 913-918页 SCIMEDLINECABP
【关键词】 FeCo; defect characterization; electron channeling contrast imaging;
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