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【中文期刊】 卢嘉倩 魏存峰 等 《中国体视学与图像分析》 2022年26卷2期 156-168页ISTIC
【摘要】 随着晶体管和激光器的发明和发展,工业上对高质量单晶体的需求量大幅度增长.单个集成电路中器件密度在逐渐增加,需要晶圆在组成、组分和晶体结构上高度均匀.X射线形貌术(XRT)是一种能够对完整晶圆的表面及内部进行无损检测的技术,从20世纪中后期就...
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